Projekt współfinansowany przez Unię Europejską z Europejskiego Funduszu Rozwoju regionalnego w ramach RPO WSL 2007-2013

Oferujemy Państwu pomiary grubości jak i składu pierwiastkowego pokryć

galwanicznych, innych powłok, stopów, folii i kąpieli galwanicznych

szybką nieniszczącą metodą EDXRF (fluorescencja rentgenowska)

za pomocą spektrometru X-Strata 960 firmy Oxford Instruments.

Zapewniamy doskonałą identyfikację materiałów wielo pierwiastkowych

od Ti22 do U92. Zapewniamy wysoką precyzję pomiarów,

które są porównywane do uznanych certyfikowanych wg NIST

(National Institute of Standards and Technology) wzorców.

Pomiarów dokonujemy za pomocą kalibracji empirycznej

lub przy użyciu szybkiej kalibracji FP (Fundamental Paramaters).

pomiar grubości powłok analiza składu kąpieli galwanicznych analiza składu stopów